正確檢驗(yàn)磁粉離合器中磁粉的方法

發(fā)布日期：[2012-06-13] 點(diǎn)擊率：

磁粉檢驗(yàn)方法適用于在鐵磁性材料表面或其附近探測(cè)裂紋和其它不均勻性缺陷。

本規(guī)程適用于磁軛濕粉連續(xù)磁化法技術(shù)。此法僅適用于檢出工件表面開(kāi)口缺陷。

磁粉檢驗(yàn)方法是指在工件受檢區(qū)域表面施加鐵磁粉，裂紋或其它缺陷會(huì)導(dǎo)致正常磁場(chǎng)畸變，使表面上的磁粉形成一定圖形，這些圖形通常是探測(cè)到的缺陷特征。

磁粉檢驗(yàn)法的靈敏度以表面缺陷處為z高，并隨離表面深度的增加而迅速降低；因此，本方法僅適用于檢驗(yàn)材料或部件的表面或近表面缺陷

磁粉保留一段時(shí)間回顯示出磁線，并不是所有顯示出來(lái)的都是缺陷，因受檢表面粗燥（如在熱影響區(qū)邊緣），導(dǎo)磁發(fā)生變化等原因，會(huì)產(chǎn)生類似于缺陷的顯示。

只有被確認(rèn)為機(jī)械缺陷的顯示，且顯示的尺寸大于1/16英寸（1.6mm）時(shí)才被認(rèn)為有效顯示；

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